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编程器读GD5F1GQ5REYIG NAND FLASH ECC问题求助
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2024-2-18 17:14
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编程器读GD5F1GQ5REYIG NAND FLASH ECC问题求助
最近读取某路由器的固件碰到一个让我疑惑的问题求大神解惑：
falsh：兆易的GD5F1GQ5REYIG 1.8V
编程器：ch341 1.8V
软件：NeoProgrammer2.2.0
查了一下DATASHEET，flash是GD5F1GQ5xExxG系列，1G-bit 2K+128BPageSize with E Version，开启ECC时128B的后64B是ECC数据。
把芯片吹下来，用ch341编程器 可以读，但每次得到的文件都随机有几十个字节不同。感觉是和ECC纠错有关。
改NeoProgrammer软件，记录芯片状态寄存器，发现读的过程中芯片状态寄存器一直显示“Bit errors greater than ECC capability(4 bits) and not corrected”的状态，
所以我推断固件没有用片内的ECC，估计是用软件或CPU的ECC校验。于是我在读之前先通过寄存器设置把片内ECC关闭，发现现象也一样，还是每次读的文件都有几十个字节随机错。
把芯片焊回主板，路由器工作是正常的。
同样的路由器我试了两台都一样。上述现象用RT809H也一样。
买了一片新的GD5F1GQ5REYIG进行测试，擦除后写入文件再读发现每次读的都一样，并不能复现上面的现象。
对硬件一点不了解，我的疑惑是为什么新买的GD5F1GQ5REYIG和拆机的flash读的现象不同？新买的falsh读出来每次结果都一样（需要ECC纠错的概率小），而拆机的falsh读出来的数据有那么多随机错（频繁需要ECC纠错）？
怎样让新买的flash也有拆机falsh的效果？
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