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[求助]IDA 6.6 中如何在调试时查看某个浮点寄存器的值
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发表于: 2015-9-7 10:50
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按照《Android软件安全与逆向》以及网络资料， 能够动态调试 apk 中 so， 但目前的问题是 不知道 IDA 中如何查看扩展寄存器 也就是 单精度和双精度 浮点寄存器的值， 诸如 S1， D1 这种
， 因为目前调试的程序涉及大量的浮点运算， 不能直接查看这些值很不方便。
首先 ， 没找到查看扩展寄存器值的窗口
其次， 调试时如果把鼠标移动到 S15 这种寄存器上面， 则弹出一个警告窗口，内容为
bad register number passed to arm.get_register_value 108
最后一个数字 随着寄存器 变化。
在谷歌上进行搜索， 只能搜到一条推文， 说有这个问题，说怀疑是IDA 的BUG，其他没搜到什么资料
哪位大神知道该怎么解决？
， 因为目前调试的程序涉及大量的浮点运算， 不能直接查看这些值很不方便。首先 ， 没找到查看扩展寄存器值的窗口
其次， 调试时如果把鼠标移动到 S15 这种寄存器上面， 则弹出一个警告窗口，内容为
bad register number passed to arm.get_register_value 108
最后一个数字 随着寄存器 变化。
在谷歌上进行搜索， 只能搜到一条推文， 说有这个问题，说怀疑是IDA 的BUG，其他没搜到什么资料
哪位大神知道该怎么解决？
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